Miernik grubości powłok Elcometer 456

Elektroniczny miernik Elcometer 456 do pomiaru grubości powłok na sucho dostępny jest w wersji z sondą zintegrowaną lub z osobną sondą - na przewodzie – dostosowaną do indywidualnych wymagań użytkownika.

Informacje ogólne:

Minimalna grubość podłoża: 0 - 300µm, inne grubości po odpowiednim dostosowaniu kalibracji
Prędkość pomiarów: ponad 60 odczytów na minutę
Opcje pomiaru: model F do pomiaru na podłożach magnetycznych (np. żelaznych, stalowych) / model NF do pomiaru na podłożach niemagnetycznych (np. metale kolorowe) / model FNF do pomiaru na obu typach podłoży
Wyświetlacz: LCD z podświetleniem
Menu: wielojęzyczne
Temperaturowy zakres pracy: od 0 do 50°C
Waga: 130g
Rozmiary: 128 x 68 x 28mm
Zasilanie: 2 baterie AAA

Podstawowe dane techniczne mierników Elcometer 456:

Nazwa	Basic	Standard	Top
Sonda wbudowana lub wymienna (wkręcana w korpus lub na przewodzie)	+	+	+
Obsługa przez menu na ekranie	+	+	+
Tryb menu: podstawowe / rozszerzone	+	+	+
Funkcja pomocy wyświetlanej na ekranie	+	+	+
Zmiana jednostek pomiarowych	+	+	+
Wbudowana instrukcja kalibracji	+	+	+
Opcje kalibracji	na pow. gładkie 2-punktowa na pow. chropowate na podłoża specjalne zerowa	na pow. gładkie 2-punktowa na pow. chropowate na podłoża specjalne zerowa	na pow. gładkie 2-punktowa na pow. chropowate na podłoża specjalne zerowa ISO, SSPC
Oprogramowanie oraz przewód do transferu danych		+	+
Statystyki	+	+	+
Pamięć pomiarów		250 odczytów w 1 serii	40000 odczytów w 999 seriach
Podgląd poszczególnych pomiarów		+	+
Kalibracja poszczególnych serii			+
Limit zakresu pomiarowego (wartości maksymalne i minimalne mogą być ustalone przez użytkownika)		+	+
Zegar oraz alarm przypomnienia o kolejnym pomiarze			+
Data oraz czas na wydruku			+
Łączność Bluetooth		+	+

Specyfikacja mierników Elcometer 456 z wbudowaną sondą:

	Nazwa	Zakres
BASIC	Ferrous Basic Integral Scale 1	0 - 1500µm
	Ferrous Basic Integral Scale 2	0 - 5mm
	Ferrous Basic Integral Scale 1 2* - HR	0 - 5mm
	Ferrous Basic Integral Scale 3	0 - 13mm
	Non-Ferrous Basic Integral	0 - 1500µm
	Dual Basic Integral FNF	0 - 1500µm
STANDARD	Ferrous Standard Integral Scale 1	0 - 1500µm
	Ferrous Standard Integral Scale 2	0 - 5mm
	Ferrous Standard Integral Scale 1 2* - HR	0 - 5mm
	Ferrous Standard Integral Scale 3	0 - 13mm
	Non-Ferrous Standard Integral	0 - 1500µm
	Dual FNF Standard Integral	0 - 1500µm
TOP	Ferrous Top Integral Scale 1	0 - 1500µm
	Ferrous Top Integral Scale 2	0 - 5mm
	Ferrous Top Integral Scale 1 2* - HR	0 - 5mm
	Ferrous Top Integral Scale 3	0 - 13mm
	Non-Ferrous Top Integral	0 - 1500µm
	Dual FNF Top Integral	0 - 1500µm

*- Ferrous 1 2 łączy zakresy Ferrous 1 oraz Ferrous 2 w jednej sondzie. Wybór zakresu dokonuje użytkownik przed pomiarem.

Sonda zintegrowana jest idealna dla płaskich i łatwo dostępnych powierzchni, podczas gdy sonda oddzielna pozwala użytkownikowi na dostęp do trudno dostępnych miejsc lub pomiaru powłok na małych powierzchniach niezależnie od ich kształtu.

Dla miernika Elcometer 456 dedykowana jest szeroka gama sond:

Sondy standardowe (F, NF oraz FNF) - dostępne rodzaje: proste, kątowe oraz teleskopowe. Odpowiednie przy większości pomiarów grubości powłok.

Temperaturowy zakres pracy: do 150°C
Minimalna grubość podłoża: magnetyczne - 0.3mm, niemagnetyczne - 0.1mm

Specyfikacja:

Typ sondy	Min. promień krzywizny wypukłej	Min. promień krzywizny wklęsłej	Pole dostępu	Min. średnica próbki
F1 (lub F 12 ustawiona jako F1)	4mm	25mm	85mm	4mm
F2 (lub F 12 ustawiona jako F2)	4mm	25mm	89mm	8mm
F1 kątowa (lub F 12 ustawiona jako F1)	4mm	25mm	28mm	4mm
F2 kątowa (lub F 12 ustawiona jako F2)	4mm	25mm	32mm	8mm
F1 teleskopowa	4mm	25mm	32mm	4mm
F2 teleskopowa	4mm	25mm	36mm	8mm
F3 standard	15mm	40mm	102mm	14mm
N1 standard	35mm	25mm	85mm	6mm
N1 kątowa	35mm	25mm	28mm	6mm
N1A (po anodowaniu)	35mm	25mm	85mm	6mm
N2 standard	100mm	150mm	85mm	14mm
FNF1 (tryb N)	38mm	25mm	88mm	8mm
FNF1 (tryb F)	4mm	25mm	88mm	4mm
FNF1 kątowa (tryb N)	38mm	25mm	34mm	8mm
FNF1 kątowa (tryb F)	4mm	25mm	34mm	4mm

Typ sondy	Zakres	Dokładność**	Rozdzielczość
F1 standard	0 - 1500µm	±1-3% lub ±2.5µm	0.1µm -od 0µm do 100µm 1µm - od 100µm do 1500µm
F1 kątowa	0 - 1500µm	±1-3% lub ±2.5µm
F1 teleskopowa	0 - 1500µm	±1-3% lub ±2.5µm
F2 standard	0 - 5mm	±1-3% lub ±0.02mm	1µm - od 0µm do 1mm 10µm - od 1mm do 5mm
F2 kątowa	0 - 5mm	±1-3% lub ±0.02mm
F2 teleskopowa	0 - 5mm	±1-3% lub ±0.02mm
Zakres F1
F 12 standard	0 - 1500µm	±1-3% lub ±2.5µm	0.1µm -od 0µm do 100µm 1µm - od 100µm do 1500µm
Zakres F2
F 12 kątowa	0 - 5mm	±1-3% lub ±0.02mm	1µm - od 0mm do 1mm 10µm - od 1mm do 5mm
F3 standard	0 - 13mm	±1-3% lub ±0.05mm	1µm - od 0mm do 2mm 10µm - od 2mm do 13mm
N1 standard	0 - 1500µm	±1-3% lub ±2.5µm	0.1µm -od 0µm do 100µm 1µm - od 100µm do 1500µm
N1 kątowa	0 - 1500µm	±1-3% lub ±2.5µm
N1A (po anodowaniu)	0 - 1500µm	±1-3% lub ±2.5µm
N2 standard	0 - 5mm	±1-3% lub ±2.5µm	1µm - od 0mm do 1mm 10µm - od 1mm do 5mm
FNF1 standard	0 - 1500µm	±1-3% lub ±2.5µm	0.1µm -od 0µm do 100µm 1µm - od 100µm do 1500µm
FNF1 kątowa	0 - 1500µm	±1-3% lub ±2.5µm	0.1µm -od 0µm do 100µm 1µm - od 100µm do 1500µm

** - ±1% gdy kalibrację wykonano dla grubości bliskiej wymaganej, ±3% w całym zakresie.

Sondy miniaturowe (F oraz NF) - dostępne rodzaje: proste, kątowe zwykłe oraz 40°. Idealne do pomiarów w miejscach trudno dostępnych czy dla materiałów o niewielkiej powierzchni.

Zakres pomiarów: 0 - 500µm
Temperaturowy zakres pracy: do 150°C
Dokładność***: ±1-3% lub ±2.5µm (przytoczona dokładność została zdefiniowana przy wykorzystaniu folii 100 mikronów)
Rozdzielczość: poniżej 100µm: 0.1µm / 100µm - 500µm: 1µm

Specyfikacja:

Typ sondy	Min. promień krzywizny wypukłej	Min. promień krzywizny wklęsłej	Min. pole dostępu		Min. średnica próbki
Typ sondy	Min. promień krzywizny wypukłej	Min. promień krzywizny wklęsłej	wysokość	szerokość	Min. średnica próbki
Sondy F
prosta 45mm	1.5mm	6.5mm	6mm średnicy		3mm
prosta 150mm	1.5mm	6.5mm	6mm średnicy		3mm
45° 45mm	1.5mm	6.5mm	18mm	7mm	3mm
45° 150mm	1.5mm	6.5mm	18mm	7mm	3mm
90° 45mm	1.5mm	6.5mm	16mm	7mm	3mm
90° 150mm	1.5mm	6.5mm	16mm	7mm	3mm
Sondy NF
prosta 45mm	3mm	25mm	6mm średnicy		4mm
prosta 150mm	3mm	25mm	6mm średnicy		4mm
45° 45mm	3mm	25mm	18mm	7mm	4mm
45° 150mm	3mm	25mm	18mm	7mm	4mm
90° 45mm	3mm	25mm	16mm	7mm	4mm
90° 150mm	3mm	25mm	16mm	7mm	4mm

*** - ±1% gdy kalibrację wykonano dla grubości bliskiej wymaganej, ±3% w całym zakresie.

Sondy PINIP (F, NF oraz FNF) - najnowszy model sondy Plug-In-Integral Probes (PINIPTM) - bezprzewodowa, montowana bezpośrednio w urządzeniu. Daje duża stabilnośc przy pomiarach na większych powierzchniach. Dostępna również w wersji pracującej na podłożach magnetycznych przy wysokich temperaturach (do 250°C)

Temperaturowy zakres pracy: do 150°C (za wyjątkiem sond High Temp PINIP pracujących w temperaturach do 250°C)
Minimalna grubość podłoża: magnetyczne - 0.3mm, niemagnetyczne - 0.1mm

Specyfikacja:

Typ sondy	Min. promień krzywizny wypukłej	Min. promień krzywizny wklęsłej	Pole dostępu	Min. średnica próbki
F1 (lub F 12 ustawiona jako F1)	4mm	60mm	153mm	4mm
F2 (lub F 12 ustawiona jako F2)	4mm	60mm	157mm	8mm
F3	15mm	45mm	168mm	14mm
N1	35mm	50mm	153mm	6mm
FNF1 (tryb N)	38mm	55mm	154mm	8mm
FNF1 tryb F)	4mm	55mm	154mm	4mm

Typ sondy	Zakres	Dokładność****	Rozdzielczość
F1 PINIP	0 - 1500µm	±1-3% lub ±2.5µm	0.1µm -od 0µm do 100µm 1µm - od 100µm do 1500µm
F2 PINIP	0 - 5mm	±1-3% lub ±0.02µm	1µm - od 0mm do 1mm 10µm - od 1mm do 5mm
F12 High Temp PINIP	Zakres F1
	0 - 1500µm	±1-3% lub ±2.5µm	0.1µm -od 0µm do 100µm 1µm - od 100µm do 1500µm
	Zakres F2
	0 - 5µm	±1-3% lub ±0.02µm	1µm - od 0mm do 1mm 10µm - od 1mm do 5mm
F3 PINIP	0 - 13mm	±1-3% lub ±0.05µm	1µm - od 0mm do 2mm 10µm - od 2mm do 13mm
N1 PINIP	0 - 1500µm	±1-3% lub ±2.5µm	0.1µm -od 0µm do 100µm 1µm - od 100µm do 1500µm
FNF1 PINIP	0 - 1500µm	±1-3% lub ±1µm	0.1µm -od 0µm do 100µm 1µm - od 100µm do 1500µm

Powrót do grubość powłok

Piaskarki, agregaty malarskie

Piaskowanie, malowanie

Miernik grubości powłok Elcometer 456